最（zuì）直接的鍍膜控製方（fāng）法是石英晶體微量平衡法(QCM)，這種（zhǒng）儀器可以直接驅動蒸發源，通過PID控製循環驅動擋板，保持蒸發（fā）速（sù）率。隻要將儀器與係統控製軟件相連接（jiē），它就（jiù）可以控製整（zhěng）個的鍍（dù）膜過（guò）程。但是(QCM)的（de）精確度是有限（xiàn）的，部分原因（yīn）是由於它監控的是被鍍膜的質（zhì）量而不是其光學厚度。
    此外雖然QCM在較低溫度下非常穩定（dìng），但溫度較高時，它會變得對（duì）溫度非常敏感。在長時間的加熱過程中，很難阻止傳感器跌入這個敏感區（qū）域（yù），從而對膜層造成重大誤差。
    光學監控是高精密鍍膜的的首選監控方式，這是因為（wéi）它可以更精（jīng）確地控製（zhì）膜（mó）層厚度(如（rú）果運（yùn）用得當)。精確度的改進源於很（hěn）多因（yīn）素,但最根本的原因是對光（guāng）學厚（hòu）度的監控。
    OPTIMAL SWA-I-05單波長光學（xué）監控係統，是采用間接測控，結合汪博士開發的先進光學監控軟件（jiàn），有效提高（gāo）光學反應對膜厚度變化（huà）靈敏度的理（lǐ）論和方法來減少終（zhōng）極誤差，提供了反饋或傳輸的選擇模式和大範圍的監（jiān）測波長。特別適合（hé）於各（gè）種膜厚的鍍膜監（jiān）控包括（kuò）非規整膜監（jiān）控。

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